Automatisierung eines RF/DC Inkmeßplatzes Für die Firma Infineon Technologies wurde eine Software in HP VEE erstellt, die es erlaubt, alle Systeme eines Wafers vollautomatisch zu testen. Die Systeme des Wafers werden automatisch angefahren, kontaktiert und vermessen. Dabei werden sowohl DC- als auch RF-Messungen durchgeführt. Die Meßergebnisse werden während des Meßablaufes graphisch angezeigt und in Ergebnisdateien archiviert.

Das Programm wird in der Wafer-Produktion eingesetzt. Es ist durch eine einfache Menüführung bedien- und konfigurierbar. Dabei gibt es verschiedene Zugriffsrechte. Benutzer mit hohen Rechten können die Meßabläufe und –parameter modifizieren, während Benutzer mit geringen Rechten das Meßprogramm lediglich ablaufen lassen können.

Unterstützte Hardware:

	HPE 5252A	Switch
	HP 4142	DC Analyzer
	HP 8340A	Sweep-Synthesizer
	HS 8116a	Pulsgenerator
	HP 8991A	Peak Power Analyzer
	2001 CXE inkl. Inker	Electroglas Prober
	Verstärker/Koppler	Eigenbau des Kunden